[其他]测量铀同位素位移光谱的方法和装置在审

专利信息
申请号: 101985000002218 申请日: 1985-04-01
公开(公告)号: CN85102218B 公开(公告)日: 1988-05-25
发明(设计)人: 金巨广;王松岳;孙孝忠;徐俊;王秀兰;金昌泰;生明涛 申请(专利权)人: 中国科学院长春应用化学研究所
主分类号: 分类号:
代理公司: 中国科学院长春专利事务所 代理人: 曹桂珍;宋天平
地址: 吉林省长*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种测量铀同位素位移光谱的光电流光谱方法和装置。采用双光路均测待测信号的检测系统,把一束可调谐染料激光分成两路,把238↑U和235U同位素空心阴极灯分别置于双光路中,激光按波长扫描共振辐照双灯,先后产生235U和235U的两个光电流强信号,信号经放大后合并记录由该二强信号形成的同位素位移光谱。显著地提高了测定灵敏度与准确度。并可测量单光路法不能测量的零位移光谱。
搜索关键词: 测量 同位素 位移 光谱 方法 装置
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