[其他]一种微小光程差测量系统在审

专利信息
申请号: 101985000002287 申请日: 1985-04-01
公开(公告)号: CN85102287B 公开(公告)日: 1987-05-20
发明(设计)人: 徐炳德 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械研究所
主分类号: 分类号:
代理公司: 中国科学院长春专利事务所 代理人: 刘树清
地址: 吉林省长*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 一种微小光程差测量系统属于物理学领域中一种光学计量测试装置[G01J9/00],它是利用光拍相位变化来测量微小光程差的一种光电系统。本发明采用含有电光移相器的双臂可调程平行光路作为二不同频率光的非共程光路,选用了具有较佳性能参数的双频激光,因而使系统可测量1~一个光波长范围的微小位移;也可测量具有微小折射率变化或微小变形的透明体在1~一个光波长范围的微小光程变化,并可给出程差变化过程或其分布。
搜索关键词: 一种 微小 光程 测量 系统
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