[其他]测量样品折射率的方法在审
| 申请号： | 101985000002907 | 申请日： | 1985-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN85102907B | 公开（公告）日： | 1988-12-07 |
| 发明（设计）人： | 冷长庚 | 申请（专利权）人： | 冷长庚 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 电子工业部专利服务中心 | 代理人： | 张桂霞 |
| 地址： | 北京市1*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提出了由激光器、全反射镜、探测器、电路和测量系统所构成的折射仪。它利用“γ”形曲线的“平直段”、“陡降段”和“缓升段”分别做校准、精测和粗测，双光束做自补偿。特点是不做角度测量、无活动部件、结构简单、实时测量。通过对棱镜材料和入射角的选择，可设计制造出折射率测量范围为大于１直到无穷大的一系列精密仪器。它也极适于用做探测与物质折射率有关的各种物理量的实时传感器。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 样品 折射率 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于冷长庚，未经冷长庚许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/101985000002907/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：特性曲线识别自校正控制器
- 下一篇：电磁执行机构
- 同类专利
- 专利分类
