[其他]测量固体表面速度变化的光干涉仪在审
| 申请号： | 101985000004475 | 申请日： | 1985-06-07 |
| 公开（公告）号： | CN85104475B | 公开（公告）日： | 1988-09-21 |
| 发明（设计）人： | 张仲先 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 浙江大学专利代理事务所 | 代理人： | 陈祯祥 |
| 地址： | 浙江省杭*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种测量固体表面速度变化的光干涉仪。仪器中设置两条长短不同的光路系统，光源发出的光分别经过它们，以时间差τ值先后射到被测表面，当它们从表面返回干涉系统时，应用光的偏振特性，使之各自经过与入射光路长短相反的路径到达光电探测器，于是消除时间差τ而实现等光程干涉，干涉条纹的变化正比于表面速度的变化。测速变化范围３ｍ／ｓ－１０００ｍ／ｓ，本发明具有量程大，成本低，使用方便的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 固体 表面 速度 变化 干涉仪 | ||
【主权项】：
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