[其他]微波高度测量方法和装置在审
| 申请号： | 101985000004668 | 申请日： | 1985-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN85104668B | 公开（公告）日： | 1988-07-27 |
| 发明（设计）人： | 科特·奥洛夫·艾德瓦德森 | 申请（专利权）人： | 塞伯海洋电气公司 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 瑞典格特伯格S-4*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 材料高度的微波测量。发送装置产生出具有对应于待测距离之频率的测量信号。和具有对应已知长度之频率的基准信号。用一与该距高的假设值和已知长度有关的数乘基准信号，并用一固定数除之。以使该信号的频率等于测量信号的期望频率。把产生的控制信号同该测量信号相混合，测量相位差，并计算相继的取样间隔中的相位差变化，以确定假设距离的修正项。 | ||
| 搜索关键词： | 微波 高度 测量方法 装置 | ||
【主权项】：
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