[其他]光学岩组仪在审

专利信息
申请号: 101986000007175 申请日: 1986-11-01
公开(公告)号: CN1003738B 公开(公告)日: 1989-03-29
发明(设计)人: 朱中一 申请(专利权)人: 武汉地质学院
主分类号: 分类号:
代理公司: 中国地质大学(武汉)专利事务所 代理人: 葛立刚;胡圣虹
地址: 武汉市武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明的光学岩组仪由费氏台、彩色摄像机、视频板、电视监测器、微机和输出设备组成。在费氏台物台上装有薄片平移器,在费氏台显微镜试板孔中插有一块万能试板。本发明采用定量晶体光学理论计算和最小二乘法拟合、提高了岩组测量精度和速度,一般可在20~60分钟内自动绘出岩组图。另外,还可进行矿物粒度测量和百分含量统计。
搜索关键词: 光学 岩组仪
【主权项】:
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