[其他]一种射线测厚方法和射线数字厚度计在审
| 申请号： | 101987000004380 | 申请日： | 1987-06-25 |
| 公开（公告）号： | CN87104380B | 公开（公告）日： | 1988-10-05 |
| 发明（设计）人： | 王泽民 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 清华大学专利事务所 | 代理人： | 张志东 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明用于材料厚度的无接触在线测量，由放射源、探测器和二次仪表构成。其二次仪表包括加偏压的反向器，充电式对数Ａ／Ｄ变换器、时间常数调节电路和Ｖ |
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| 搜索关键词： | 一种 射线 方法 数字 厚度 | ||
【主权项】：
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