[发明专利]同时监测强度调制和频率调制的光取样系统有效

专利信息
申请号: 200310100098.X 申请日: 2003-10-08
公开(公告)号: CN1497247A 公开(公告)日: 2004-05-19
发明(设计)人: 伊藤文彦 申请(专利权)人: 日本电信电话株式会社
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00;G01J1/04;G02F2/00
代理公司: 北京银龙专利代理有限公司 代理人: 钟晶
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 光取样系统通过探测干涉效应(即信号光和光脉冲之间的线性相关)实现光取样,从而足以满足信号光和光脉冲可以有相对低的强度,而且接收灵敏度高。同样,光脉冲的脉冲宽度和施加于光脉冲的迟延量是限制时间分辨率的唯一因素,因而,有可能提供一种具有出色的时间分辨率和能量消耗性能的光取样系统,并有可能使光取样系统不仅能监测信号光的强度,而且也能监测信号光频率调制分量。
搜索关键词: 同时 监测 强度 调制 频率 取样 系统
【主权项】:
1.一种监测重复输入的高速信号光的光取样方法,此方法包括以下步骤:用一个光脉冲发生器产生脉冲宽度比信号光的频偏之倒数要短的光脉冲,光脉冲的周期略为不同于信号光的重复周期;用各自的分光镜将每个信号光和光脉冲分裂成两部分;用延迟单元将信号光或光脉冲的一个分裂出来的部分延迟指定的时间;将信号光和光脉冲的一个分裂出来的部分输入到第一个光混合器,同时将信号光和光脉冲的另一个分裂出来的部分输入到第二个光混合器;用第一个和第二个平衡式光接收器接收来自第一个光混合器的输出光,并输出电流1和电流2;用第三个和第四个平衡式光接收器中接收来自第二个光混合器的输出光,并输出电流3和电流4用一个计算处理装置根据电流1-4的值执行计祘处理来得到信号光的频率调制分量。
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