[发明专利]半导体存储装置以及装载它的电子装置无效
申请号: | 200310101407.5 | 申请日: | 2003-10-17 |
公开(公告)号: | CN1497726A | 公开(公告)日: | 2004-05-19 |
发明(设计)人: | 嶋山恭博;加藤刚久;山田隆善 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L27/10 | 分类号: | H01L27/10;G11C11/21 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及半导体存储装置以及装载它的电子装置,谋求降低写入电压、增加强电介质电容器的能重写次数,以及充分长时间地确保数据保持的寿命的2个优点的并存。强电介质电容器使2个剩余极化的偏移(点b和点c)与数据“1”对应,使1个剩余极化的偏移(点a)与数据“0”对应。做到在写入数据“1”的场合,在强电介质电容器中外加电压的大小或脉冲宽度不同的2个电脉冲中的任何1个,强电介质电容器的剩余极化的偏移变成点b或c的任何1个。另一方面,做到在写入数据“0”的场合,强电介质电容器的剩余极化的偏移变成点a。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 以及 装载 电子 | ||
【主权项】:
1.一种半导体存储装置,其特征在于,它具备:存储多个逻辑值中的任何1个,在对于多个逻辑值中的至少1个逻辑值,有不同的多个剩余极化的偏移对应的同时,对于多个逻辑值中至少1个逻辑值以外的其它逻辑值也有与多个剩余极化的偏移的任何偏移不同的其它剩余极化的偏移对应的强电介质电容器;对于强电介质电容器外加将该强电介质电容器变成多个剩余极化的偏移和其它剩余极化的偏移中任何一个偏移的写入电脉冲,并将多个逻辑值中的任何一个逻辑值写入到强电介质电容器的数据写入设备;以及对于强电介质电容器外加读出电脉冲,检测外加该读出电脉冲时的强电介质电容器的剩余极化的偏移,并读出被存储在强电介质电容器中的逻辑值的数据读出设备。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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