[发明专利]埋入式配线结构的制造方法无效
申请号: | 200310102486.1 | 申请日: | 2003-10-21 |
公开(公告)号: | CN1497702A | 公开(公告)日: | 2004-05-19 |
发明(设计)人: | 石桥健夫;小野良治 | 申请(专利权)人: | 株式会社瑞萨科技 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 崔幼平;杨松龄 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在绝缘膜上形成第1凹部,与该第1凹部重叠地形成第2凹部时,可形成高精度的第2凹部。在绝缘膜上形成第1凹部,在该第1凹部和绝缘膜上涂布填埋材料将第1凹部填埋,对填埋材料进行化学机械研磨使之仅存留于第1凹部内,在填埋了填埋材料的绝缘膜上形成具有与第1凹部重合的第2部的图案的抗蚀剂层,以该抗蚀剂层为掩膜将填埋材料和绝缘膜腐蚀至既定深度而形成第2凹部。 | ||
搜索关键词: | 埋入 式配线 结构 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种埋入式配线结构的制造方法,其特征是具有,在绝缘膜上形成第1凹部的工序,在该第1凹部和所说绝缘膜上涂布填埋材料将所说第1凹部填埋的工序,对所说填埋材料进行化学机械研磨使之仅存留在所说第1凹部内的工序,在填埋了所说填埋材料的所说绝缘膜上形成具有与所说第1凹部重合的第2凹部的图案的抗蚀剂层的工序,以该抗蚀剂层为掩膜将所说填埋材料和所说绝缘膜腐蚀至既定深度而形成第2凹部的工序,将经过上述腐蚀后残留的所说抗蚀剂层和所说填埋材料除去的工序,以及,向所说第1凹部和所说第2凹部中堆积导电体材料的工序。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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