[发明专利]光学信息记录介质、光学记录和再现方法及光学记录和再现装置无效

专利信息
申请号: 200310102656.6 申请日: 2003-10-28
公开(公告)号: CN1499491A 公开(公告)日: 2004-05-26
发明(设计)人: 秋山哲也;西内健一;宫川直康 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/00 分类号: G11B7/00;G11B7/24;G11B11/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 夏青
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种光学信息记录介质,包括:第一到第N记录层(其中N为大于或等于2的整数),这些记录层从激光束的入射侧的相对侧顺序排列。从一侧进入的激光束辐射在第一到第N记录层中的任何一层上,从而记录和再现信息。至少第一到第N记录层中的任何一层包括一校正信息记录部分。该校正信息记录部分包含一校正信息,用于根据第二到第N记录层的透射率在未记录状态和已记录状态之间的变化,来校正激光束强度。
搜索关键词: 光学 信息 记录 介质 再现 方法 装置
【主权项】:
1.一种光学信息记录介质,包括:第一到第N记录层,其中N为大于或等于2的整数,这些记录层从激光束的入射侧的相对侧顺序排列,已从一侧进入的激光束辐射在第一到第N记录层中的任何一层上,从而记录和再现信息;其中,第一到第N记录层中的至少任何一层包括一校正信息记录部分,该校正信息记录部分包含一校正信息,用于根据在未记录状态和已记录状态之间第二到第N记录层的透射率的变化,来校正激光束强度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于松下电器产业株式会社,未经松下电器产业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200310102656.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top