[发明专利]在有缺陷光存储介质上记录数据的方法和装置及存储介质有效
| 申请号： | 200310102686.7 | 申请日： | 2003-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN1503237A | 公开（公告）日： | 2004-06-09 |
| 发明（设计）人： | 玄尚勋 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B7/0045 | 分类号： | G11B7/0045;G11B20/10 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 邵亚丽;马莹 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 公开了在光存储介质的有缺陷区域中记录数据的方法、装置和相应的存储介质，其中，该方法包括以下步骤：响应于写命令检测写开始地址；当在所述写开始地址的检测期间，由于不稳定的伺服控制信号而没有检测到所述写开始地址时，检查所述写开始地址处的特殊区域是否是有缺陷区域；当所述特殊区域被确定为有缺陷区域时，在禁止所述检查伺服控制信号是否稳定的一寄存器的同时，继续检测所述写开始地址；当检测到所述写开始地址时，在所述特殊区域中记录先前生成的数据并启动检查所述伺服控制信号是否稳定的所述寄存器；在启动检查所述伺服控制信号是否稳定的所述寄存器的同时，确定所述写开始地址的替代地址；以及在所述替代地址处记录数据。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 存储 介质 记录 数据 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种在光存储介质的有缺陷区域中记录数据的方法，该方法包括：响应于写命令检测写开始地址；当在所述写开始地址的检测期间，由于不稳定的伺服控制信号而没有检测到所述写开始地址时，检查所述写开始地址处的特殊区域是否是有缺陷区域；当所述特殊区域被确定为有缺陷区域时，在禁止用来检查伺服控制信号是否稳定的一寄存器的同时，继续检测所述写开始地址；当检测到所述写开始地址时，在所述特殊区域中记录先前生成的数据并启动所述用来检查所述伺服控制信号是否稳定的寄存器；在启动所述用来检查所述伺服控制信号是否稳定的寄存器启动的同时，确定所述写开始地址的替代地址；以及在所述替代地址处记录数据。
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