[发明专利]填充间隙的方法与浅沟渠隔离结构的制造方法有效
申请号: | 200310103442.0 | 申请日: | 2003-11-03 |
公开(公告)号: | CN1614752A | 公开(公告)日: | 2005-05-11 |
发明(设计)人: | 吕前宏;苏金达;陈光钊 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/31 | 分类号: | H01L21/31;H01L21/768;H01L21/76;H01L21/762 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿宁;张华辉 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是关于一种填充间隙的方法与浅沟渠隔离结构的制造方法,该填充间隙的方法,是先提供一基底,且该基底上已形成有数个凸部,而且各个凸部之间是具有间隙。接着,在基底上形成第一介电层,以填入这些凸部之间的间隙,并覆盖这些凸部,其中所形成的第一介电层中具有数个缝隙,且这些缝隙的位置是高于凸部的顶部。然后,进行化学机械研磨法,移除部分第一介电层,以使缝隙打开,而形成数个开口。之后,进行非等向性蚀刻制程,以扩大这些开口的宽度。继之,在第一介电层上形成第二介电层,以填满开口。本发明可以避免现有习知方法在凸部间的间隙填入介电材料时,会在介电材料层中产生缝隙的问题。从而更加适于实用,且具有产业上的利用价值。 | ||
搜索关键词: | 填充 间隙 方法 沟渠 隔离 结构 制造 | ||
【主权项】:
1、一种填充间隙的方法,其特征在于其包括以下步骤:提供一基底,且该基底上已形成有复数个凸部,而且各该些凸部之间具有一间隙;在该基底上形成一第一介电层,以填入该些凸部之间的该间隙,并覆盖该些凸部,其中所形成的该第一介电层中具有复数个缝隙,且该些缝隙的位置是高于该些凸部的顶部;进行一化学机械研磨法,移除部分该第一介电层,以使该些缝隙打开,而形成复数个开口;进行一非等向性蚀刻制程,以扩大该些开口的宽度;以及在该第一介电层上形成一第二介电层,以填满该些开口。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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