[发明专利]一种验证代码覆盖率分析的简单方法无效
| 申请号： | 200310104038.5 | 申请日： | 2003-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN1630052A | 公开（公告）日： | 2005-06-22 |
| 发明（设计）人： | 孙杰;李为民;华海红 | 申请（专利权）人： | 四川南山之桥微电子有限公司 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/00;G06F11/00;G06K5/00 |
| 代理公司： | 成都天元专利事务所 | 代理人： | 张新 |
| 地址： | 611731四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片验证中建立验证代码覆盖率的方法，包括以下步骤：给逻辑代码的分支加标记、对运行代码进行仿真、记录经过的逻辑分支、仿真足够程度的判断、统计总的经过的逻辑分支，本发明实现了验证代码覆盖率的分析，简单直接，能够及时发现在有复杂逻辑的超大规模集成电路中发现隐藏的逻辑错误，从而保证有复杂逻辑的超大规模集成电路的正常运行。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 验证 代码 覆盖率 分析 简单 方法 | ||
【主权项】：
1、一种验证代码覆盖率分析的简单方法，其特征在于：包括以下步骤：给逻辑代码的分支加标记、对运行代码进行仿真、记录经过的逻辑分支、仿真足够程度的判断、统计总的经过的逻辑分支。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
