[发明专利]一种集成光学M-Z结构模数转换器无效

专利信息
申请号: 200310104119.5 申请日: 2003-12-25
公开(公告)号: CN1635417A 公开(公告)日: 2005-07-06
发明(设计)人: 杨亚培;张谦述;戴基智;张晓霞;刘永智 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G02F7/00 分类号: G02F7/00;G02F2/00;G01J9/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610054四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明的提供一种新型集成光学M-Z结构模数转换器,它是在泰勒(Taylor)方案的基础上,使每一个M-Z干涉仪调制电极的长度相同,被采样信号通过N-1个电子放大器17逐一放大2倍分别加到M-Z干涉仪两个臂的调制电极15上,然后再调制到采样光脉冲上。本发明的新型集成光学M-Z结构模数转换器就具有在光域内已经实现量化、高的采样速率、较高位数的ADC等特点。
搜索关键词: 一种 集成 光学 结构 转换器
【主权项】:
1、一种新型集成光学M-Z结构模数转换器,它包括N个M-Z干涉仪,且每个M-Z干涉仪包括位于两个臂间接地电极(16)和两个臂,所述的两个臂均有调制电极(15),N个M-Z干涉仪在同一块衬底上,N个M-Z干涉仪通过光波导(10)并接在一个光路上,被采样电信号通过放大器(1)调整后以并联方式分别加到N个M-Z干涉仪两个臂的调制电极(15),再调制到采样光脉冲上;N个M-Z干涉仪的输出经N个光电探测器(12)转换为N路电信号,再经电子放大器(13)放大后输入N个比较器(14),比较器(14)输出即为被采样信号的量化结果,其特征是所述的每个M-Z干涉仪的所有接地电极(16)和所有两个臂的调制电极(15)长度相等;被采样电信号通过放大器(1)调整后一路加到第一个M-Z干涉仪两个臂的调制电极(15)上,另一路经过电子放大器(17)放大2倍后又分两路,一路加到第二个M-Z干涉仪两个臂的调制电极(15)上,另一路经电子放大器(17)放大2倍又分为两路,一路加到第三个M-Z干涉仪两个臂的调制电极(15)上,另一路经电子放大器(17)放大2倍又分为两路,……,直到一路加到第N-1个M-Z干涉仪两个臂的调制电极(15)上。
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