[发明专利]桥接与连续性测试的测试式样无效

专利信息
申请号: 200310108059.4 申请日: 2003-10-21
公开(公告)号: CN1610086A 公开(公告)日: 2005-04-27
发明(设计)人: 何军;李栋;冷德学;蔡孟锦 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L21/66 分类号: H01L21/66;H01L21/00;G11C29/00;G06F11/22;G01R31/317
代理公司: 上海光华专利事务所 代理人: 余明伟
地址: 201203上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种测试式样,用于静态随机存储器的桥接与连续性的测试。此测试式样包含至少一个测试单元,由一第一股与一第二股以一相嵌方式组成。其特征之一为任一股由一封口钩部、对应的一延伸部与对应的一连接部组成。其次,任一连接部可通过至少一第一测试垫电性连接至一外部电压,其中第一股封口钩部与第二股的封口钩部平行,任一封口钩部与对应的延伸部之间形成至少一转角,使得第一股的封口钩部相邻且平行于第二股的封口钩部与第二股的延伸部。进一步地,延伸部与对应的连接部之间形成另一转角,使得第一股的连接部相邻且平行于第二股的延伸部,如此以构成所谓的相嵌方式。
搜索关键词: 连续性 测试 式样
【主权项】:
1、一种桥接与连续性测试的测试式样,用于静态随机存储器的桥接与连续性的测试,该测试式样包含至少一个测试单元,该测试单元由一第一股与一第二股以一相嵌方式组成,其特征在于:任一所述股由一封口钩部、对应的一延伸部与对应的一连接部组成,任一所述连接部可通过至少一第一测试垫电性连接至一外部电压,其中该第一股封口钩部与该第二股的封口钩部平行、任一该封口钩部与对应的该延伸部之间形成至少一第一转角,使得该第一股的封口钩部相邻且平行于该第二股的封口钩部与该第二股的延伸部、以及该延伸部与对应的该连接部之间形成一第二转角,使得该第一股的连接部相邻且平行于该第二股的延伸部,以构成所述相嵌方式。
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