[发明专利]一种芯片内建电可擦除存储器的测试模块及其测试方法有效
| 申请号： | 200310109228.6 | 申请日： | 2003-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN1627516A | 公开（公告）日： | 2005-06-15 |
| 发明（设计）人： | 桑浚之 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | H01L25/00 | 分类号： | H01L25/00;H01L21/82;H01L21/66;G01R31/28;G06F11/00;G11C16/00;G11C29/00 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片内建电可擦除存储器的测试模块，旨在提供一种内嵌式的用于集成电路设计及集成电路测试中的内建电可擦除存储器的测试模块。其中芯片内建电测试模块为被测EEPROM模块提供测试激励向量，并将测得的模块响应向量与期待向量比较，向外部提供判断信号。其测试过程是ASIC内部完成。因此，可提供完善的测试向量并保证测试品质，又降低测试成本保证产品有足够的价格竞争力。另外，还可以解决含内嵌式EEPROM模块的集成电路测试时间过长，测试成本过大的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 内建电可 擦除 存储器 测试 模块 及其 方法 | ||
【主权项】：
1、一种芯片内建电可擦除存储器的测试模块，其特征在于：所述测试模块是由一芯片内建测试(BIST)模块和一端与该模块相连接的输入/输出端口(2)，另一端连接被测内嵌式EEPROM模块，在内嵌式EEPROM模块端口分别连接有输入、输出的外围电路(3)、(4)，BIST模块(1)与被测EEPROM模块(5)间连接有一块MUX模块(6)。
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