[发明专利]用等离子体技术制备透明低阻/高阻复合膜无效

专利信息
申请号: 200310111023.1 申请日: 2003-11-27
公开(公告)号: CN1544685A 公开(公告)日: 2004-11-10
发明(设计)人: 冯良桓;雷智;张静全;林锡钢 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: C23C14/48 分类号: C23C14/48
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610065四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 用等离子体技术制备透明低阻/高阻复合膜本项发明所属领域为,新型光电子材料。用低温等离子技术制备透明低电阻/高电阻复合薄膜,属于真空物理和半导体技术相结合的新工艺。本发明主要针对制备太阳能电池的透明电极时,需反复沉积透明导电膜和透明高阻膜。用氧等离子对透明导电薄膜进行轰击,一次性将透明导电薄膜处理成透明低阻/高阻复合膜,而无需再沉积一层透明高阻膜。该发明减化了生产工艺,大幅降低产品成本。本发明还可用于液晶显示器和塑料显示器的透明电极。
搜索关键词: 等离子体 技术 制备 透明 复合
【主权项】:
1.一个使用低温等离子技术制备透明低阻/高阻复合膜的方法。其特征是,在透明低电阻膜的基础上,用氧等离子进行轰击,对透明低阻膜内的氧缺位进行补偿,从而形成低阻/高阻复合膜。
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