[发明专利]铝电解电解质初晶温度及分子比槽前在线测定仪无效
| 申请号： | 200310111593.0 | 申请日： | 2003-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN1546735A | 公开（公告）日： | 2004-11-17 |
| 发明（设计）人： | 刘永刚;任凤莲;秦文忠;练文柳;杨韵屏;宋鸽;甘霖;李向群;曾广钦;黄运生 | 申请（专利权）人： | 中国铝业股份有限公司;中南大学 |
| 主分类号： | C25C3/20 | 分类号： | C25C3/20 |
| 代理公司： | 南宁明智专利事务所有限公司 | 代理人： | 黎明天 |
| 地址： | 10081*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种铝电解电解质初晶温度及分子比槽前在线测定仪。本发明通过功能集成，能在实际数据的基础上建立符合实际情况的电解质成份与初晶温度的关系，电解质成份与其分子比的关系，电解质初晶温度与其分子比的关系，从而实现了通过测定电解质初晶温度这个物理量来测定电解质的分子比。本发明包括信号采集系统的炉体和温度传感器；测量处理系统由工控机I、RAM存贮器V、EPROM存贮器X、液晶显示器VI、键盘VII、A/D转换器II、D/A转换器III组成；升温控温系统由驱动单元VIII、电炉IX组成。本发明结构紧凑、小巧便携、测定快捷、结果准确。 | ||
| 搜索关键词： | 电解 电解质 温度 分子 在线 测定 | ||
【主权项】：
1、一种铝电解电解质初晶温度及分子比槽前在线测定仪，其特征在于：通过测定铝电解质步冷曲线，来测定初晶温度，再通过初晶温度分析电解质分子比；测定仪由电热炉及温度传感器组成的信息采集系统及升温控温系统、测量处理系统构成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国铝业股份有限公司;中南大学，未经中国铝业股份有限公司;中南大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200310111593.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：常温三合一清洗除锈磷化剂及其制备方法
- 下一篇：导线布局结构
