[发明专利]一种地下洞室、隧道非接触式收敛监测的方法无效

专利信息
申请号: 200310111644.X 申请日: 2003-12-24
公开(公告)号: CN1554924A 公开(公告)日: 2004-12-15
发明(设计)人: 王浩;葛修润 申请(专利权)人: 中国科学院武汉岩土力学研究所
主分类号: G01B7/004 分类号: G01B7/004;G01B7/16
代理公司: 武汉宇晨专利事务所 代理人: 王敏锋
地址: 43007*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种地下洞室、隧道非接触式收敛监测的方法,涉及岩土工程表面变形收敛监测。该方法在洞室的横截面上埋设反光靶标作为测点,每两个测点之间成测线,在能观测到测点处架设电子全站仪,测出测点的三维坐标,根据距离公式算出每两个测点间的三维距离,不同期次测得的三维距离值与第一次测得的三维距离值之差为该两测点之间测线的收敛值。本发明节时、方便、快捷和实用,测量时无需每次接近测点,电子全站仪可以自由设置在能够观测到测点的地方,无需强制对中,测量数据可以自动记录,能方便地采用计算机进行后处理,实现快速监测、快速反馈以指导施工,适合于地下洞室、隧道等施工现场。
搜索关键词: 一种 地下 隧道 接触 收敛 监测 方法
【主权项】:
1、一种地下洞室、隧道非接触式收敛监测的方法,其特征在于,该方法按下列步骤顺序进行:a、在洞室中垂直于洞室轴线的横截面上设定监测断面;b、在监测断面上均匀埋设3-5个反光靶标,每个反光靶标即为一个测点Pi,i=1、2、3、4、5;c、在能观测到所有测点Pi,i=1、2、3、4、5的地方架设电子全站仪;d、用电子全站仪第一次测量每个测点Pi,i=1、2、3、4、5的三维坐标,该三维坐标记为(X1i,Y1i,Z1i);e、任意两个不相同的测点Pi、Pj构成一条测线,测线的长度D1ij 用下列三维距离公式计算: D ij 1 = ( X j 1 - X i 1 ) 2 + ( Y j 1 - Y i 1 ) 2 + ( Z j 1 - Z i 1 ) 2 其中:i≠j;i、j=1、2、3、4、5;f、过1-30天,进行第二次测量;g、在能观测到所有测点Pi,i=1、2、3、4、5的地方架设电子全站仪;h、用电子全站仪第二次测量每个测点Pi,i=1、2、3、4、5的三维坐标,该三维坐标记为(X2i,Y2i,Z2i);i、任意两个不相同的测点Pi、Pj构成一条测线,测线的长度D2ij 用下列三维距离公式计算: D ij 2 = ( X j 2 - X i 2 ) 2 + ( Y j 2 - Y i 2 ) 2 + ( Z j 2 - Z i 2 ) 2 其中:i≠j;i、j=1、2、3、4、5;j、两次测量的任意两个不相同测点Pi与Pj之间测线的收敛值ΔD2ij用下列公式计算:ΔD2ij=D2ij-D1ij,其中:i≠j;i、j=1、2、3、4、5。
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