[发明专利]测量碳纳米管储氢量的方法无效
| 申请号： | 200310112502.5 | 申请日： | 2003-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN1621822A | 公开（公告）日： | 2005-06-01 |
| 发明（设计）人： | 翁维襄 | 申请（专利权）人： | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518109广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量碳纳米管储氢量的方法，该方法包括以下步骤：步骤一，提供适量纯净的碳纳米管，将该碳纳米管冷均压成板片状碳纳米管锭；步骤二，测量该板片状碳纳米管锭的导电系数；步骤三，将该板片状碳纳米管锭吸氢并测得其储氢量后，与步骤二相同的条件下测量其导电系数；步骤四，重复步骤一至三，调整碳纳米管的数量，使每一次充入的氢气量不同，测量出吸附有不同量氢气的板片状碳纳米管锭的不同导电系数；步骤五，根据步骤二至四所得的数据绘制导电系数－碳纳米管储氢量的标准曲线图；步骤六，将一未知氢气含量的碳纳米管与步骤一相同条件下冷均压成板片状锭，再与步骤二相同条件下测量其导电系数，从步骤五所绘制的标准曲线图上查找出碳纳米管的储氢量。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 纳米 管储氢量 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测量碳纳米管储氢量的方法包括：步骤一，提供适量纯净碳纳米管，将该碳纳米管冷均压成板片状碳纳米管锭；步骤二，测量该板片状碳纳米管锭的导电系数；步骤三，将该板片状碳纳米管锭吸氢并测得其储氢量后，与步骤二相同条件下测量其导电系数；步骤四，重复步骤一至三，调整碳纳米管的数量，使每一次充入的氢气量不同，测量出吸附有不同量氢气的板片状碳纳米管锭的不同导电系数；步骤五，根据步骤二至四所得数据绘制导电系数-奈米碳管储氢量的标准曲线图；步骤六，将一未知氢气含量的碳纳米管与步骤一相同条件下冷均压成板片状碳纳米管锭，再与步骤二相同条件下测量其导电系数，从步骤五所绘制的标准曲线图上查找出碳纳米管的储氢量。
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