[发明专利]一种测试电子元件的装置和方法无效
| 申请号： | 200310114262.2 | 申请日： | 2003-11-06 |
| 公开（公告）号： | CN1501089A | 公开（公告）日： | 2004-06-02 |
| 发明（设计）人： | D·克雷特内特 | 申请（专利权）人： | 伊斯梅卡半导体控股公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/00;H01L21/66 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨松龄 |
| 地址： | 瑞士拉*** | 国省代码： | 瑞士;CH |
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| 摘要： | 一种自动测试电子元件的装置，包括测试电子元件(8)的测试台(7)和至少一个固定电子元件(8)的支撑件(2)。支撑件通过电子元件的下侧面和两个相对侧面来固定电子元件(8)，使电子元件(8)固定到支撑件上时上侧面和至少两个侧面全都可接近。这些侧面都可以接近，提高了与进行测试的电子元件(8)的这些侧面上的接触点(80)接触的可能性，并允许同时进行测试，如非常小尺寸的发光二极管的开尔文法电测试和光学测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 电子元件 装置 方法 | ||
【主权项】：
1.一种自动测试电子元件的装置，包括测试电子元件(8)的测试台(7)和至少一个固定所述电子元件(8)的支撑件(2)；所述至少一个支撑件(2)通过所述电子元件(8)的下侧面和两个相对侧面固定所述电子元件(8)，当所述电子元件(8)固定到所述至少一个支撑件(2)上时，可完全接触到所述电子元件(8)的上侧面和至少两个相对侧面的接触点(80)。
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