[发明专利]一种多端口存储器的测试方法有效
| 申请号： | 200310115354.2 | 申请日： | 2003-11-19 |
| 公开（公告）号： | CN1619705A | 公开（公告）日： | 2005-05-25 |
| 发明（设计）人： | 李颖悟 | 申请（专利权）人： | 华为技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 518129广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明有关于一种多端口存储器的测试方法，包括：(1)首先依次测试各个端口的外围互连线，如果外围互连线有故障，则进行故障诊断；如果外围互连线没有发现故障，则进行下列步骤；(2)通过多端口存储器的一端口对多端口存储器的存储阵列进行测试，如果存储器内部存储单元存在故障，则报告发生故障的地址；如果没有发现故障，则进行下列步骤；(3)依次对剩余端口的地址译码器和输入/输出控制器进行测试，如果地址译码器和输入/输出控制器有故障，则进行故障诊断；如果没有发现故障，则测试结束。本发明的测试方法完全覆盖了数据线、地址线、控制线、仲裁器、地址译码器和输入/输出控制器的常见故障，而且故障定位准确。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 多端 存储器 测试 方法 | ||
【主权项】：
1、一种多端口存储器的测试方法，其特征在于，该方法包括下列步骤：(1)、依次测试各个端口的外围互连线，如果外围互连线有故障，则进行故障诊断；如果外围互连线没有发现故障，则进行下列步骤；(2)、通过多端口存储器的一端口对多端口存储器的存储阵列进行测试，如果存储器内部存储单元存在故障，则报告发生故障的地址；如果没有发现故障，则进行下列步骤；(3)、依次对剩余端口的地址译码器和输入/输出控制器进行测试，如果地址译码器和输入/输出控制器有故障，则进行故障诊断；如果没有发现故障，则测试结束。
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