[发明专利]应用于光学轨迹导航元件的次画素位移量侦测方法无效
| 申请号： | 200310115421.0 | 申请日： | 2003-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN1622124A | 公开（公告）日： | 2005-06-01 |
| 发明（设计）人： | 辜维欣;林焜尉;林俊宏 | 申请（专利权）人： | 凌阳科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K11/18 | 分类号： | G06K11/18 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 李强 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 一种应用于光学轨迹导航元件的次画素位移量侦测方法，是以泰勒展开式的一阶偏微分函数所建立的连立方程式来计算位移量。该侦测方法包含下列步骤：撷取第一张影像与第二张影像；选取复数个影像点作为计算参考点；根据前述第一张影像与第二张影像计算出前述计算参考点的泰勒展开式的一阶偏微分函数的偏微分量，以产生复数个二元一次方程式；以及根据前述复数个二元一次方程式计算次画素位移量。而计算参考点可为符合影像亮度的变化是单调性且亮度的变化大于一临界值的可靠点。同时，可将计算参考点分类，并将其各类系数加总来计算位移量，藉以抑制噪声。 | ||
| 搜索关键词： | 应用于 光学 轨迹 导航 元件 次画素 位移 侦测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种应用于光学轨迹导航元件的次画素位移量侦测方法，其特征在于，包括以下步骤：撷取第一张影像与第二张影像；选取复数个影像点作为计算参考点；根据所述第一张影像与第二张影像计算出所述计算参考点的泰勒展开式的一阶偏微分函数的偏微分量，以产生复数个二元一次方程式；以及根据所述复数个二元一次方程式计算次画素位移量。
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