[发明专利]离子/等离子体辅助蒸发方法制备碳锗合金膜无效

专利信息
申请号: 200310115963.8 申请日: 2003-12-19
公开(公告)号: CN1554801A 公开(公告)日: 2004-12-15
发明(设计)人: 高劲松;王笑夷 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: C23C14/32 分类号: C23C14/32;C23C14/06
代理公司: 长春科宇专利代理有限责任公司 代理人: 王立伟
地址: 130031吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明是用离子/等离子体辅助蒸发方法制备碳锗合金(GexC1-x)膜。以高纯锗作为蒸发材料,以含碳气体或含碳气体和氩气的混合气作为放电气体引入离子/等离子体源,使蒸发的锗原子与电离的碳离子发生反应,在基片上形成碳锗合金(GexC1-x)膜。本发明方法可得到折射率变化范围较宽,在中波红外(3~5μm)和长波红外(8~12μm)处低吸收的、粗糙度更小的碳锗合金(GexC1-x)膜。
搜索关键词: 离子 等离子体 辅助 蒸发 方法 制备 合金
【主权项】:
1、离子/等离子体辅助蒸发方法制备碳锗合金膜,将工件放置在真空室内工件架上,向真空室内通入气体,蒸发方式为电子束蒸发或热蒸发,其特征在于选择双面抛光的锗片作为基底;将含碳气体或含碳气体与氩气的混合气引入离子/等离子体源,离子/等离子源在10-2Pa的低压下工作,使含碳气体充分电离,分解出大量正碳离子,在电磁场作用下加速并充入真空室内;以高纯锗作为蒸发材料,蒸发出的锗原子与带有较高能量的正碳离子发生反应,在基底上沉积碳锗合金(GexC1-x)膜;通过调节气体流量和锗的蒸发速率,可以得到组分x不同的GexC1-x膜。
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