[发明专利]高匹配低功耗低噪声CDS电路结构无效

专利信息
申请号: 200310116352.5 申请日: 2003-11-19
公开(公告)号: CN1619945A 公开(公告)日: 2005-05-25
发明(设计)人: 金湘亮;陈杰;仇玉林 申请(专利权)人: 中国科学院微电子中心
主分类号: H03F1/00 分类号: H03F1/00;H03F1/08;H03F1/26;H03F3/45;H04N5/30
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 汤保平
地址: 100029*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种高匹配低功耗低噪声CDS电路结构,包括:两个取样开关晶体管M2、M3,是用来提高信号摆幅降低功耗,其漏极相连接并接输入端1;一个列偏置晶体管M1,其漏极接两个取样开关用P型MOS晶体管M2、M3的栅极;两个晶体管M4、M5,其源极相连接,一晶体管M4的栅极接晶体管M2的栅极,一晶体管M5的漏极接晶体管M3的栅极;两个电容C1、C2,分别与晶体管M4、M5的栅极和漏极相连接;一对列跟随晶体管M8、M9,其源极分别接电容C1、C2,晶体管M9的漏极是输出端16,晶体管M8的漏极是输出端17;一对列选通晶体管M6、M7,其源极相接,栅极相接,晶体管M6的漏极与晶体管M8的栅极相接,晶体管M7的漏极与晶体管M9的栅极相接。
搜索关键词: 匹配 功耗 噪声 cds 电路 结构
【主权项】:
1、一种高匹配低功耗低噪声CDS电路结构,其特征在于,其中包括:两个取样开关晶体管M2、M3,是P型MOS管,该两个取样开关晶体管M2、M3是用来提高信号摆幅降低功耗,其漏极相连接并接输入端1;一个列偏置晶体管M1,是N型MOS管,该列偏置晶体管M1的漏极接两个取样开关用P型MOS晶体管M2、M3的栅极;两个晶体管M4、M5,其源极相连接,一晶体管M4的栅极接晶体管M2的栅极,一晶体管M5的漏极接晶体管M3的栅极;两个电容C1、C2,其是采用N型MOS管,该两个电容C1、C2分别与晶体管M4、M5的栅极和漏极相连接;一对列跟随晶体管M8、M9,为N型MOS管,其源极分别接电容C1、C2,晶体管M9的漏极是输出端16,晶体管M8的漏极是输出端17;一对列选通晶体管M6、M7,是由两个P型MOS管构成,其源极相接,栅极相接,晶体管M6的漏极与晶体管M8的栅极相接,晶体管M7的漏极与晶体管M9的栅极相接;两次取样信号分别储存在两个电容内,利用电容上信号不能突变的原理,通过列选晶体管将复位和积分信号输出。
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