[发明专利]评价磨粒质量的方法、抛光方法以及玻璃抛光用的磨料有效
| 申请号： | 200310116366.7 | 申请日： | 2003-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN1502666A | 公开（公告）日： | 2004-06-09 |
| 发明（设计）人： | 小宫広嗣;山口在久;久恒哲史;竹中敦义;米森重明 | 申请（专利权）人： | 清美化学股份有限公司 |
| 主分类号： | C09K3/14 | 分类号： | C09K3/14;B24B9/08;G01N9/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 周承泽 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种评价抛光玻璃用的磨粒质量的方法，所述方法包括：在溶解有二氧化硅的水性介质中加入要测定的磨粒，使得二氧化硅在二氧化硅于水性介质中基本上不聚合的条件下吸附在磨粒上，随后进行固液分离，从母液中分离出磨粒，测定残留在母液中的二氧化硅浓度，用以测定二氧化硅在磨粒上的吸附率(η)。 | ||
| 搜索关键词： | 评价 质量 方法 抛光 以及 玻璃 磨料 | ||
【主权项】：
1.一种评价抛光玻璃用的磨粒质量的方法，所述方法包括：在溶解有二氧化硅的水性介质中加入要测定的磨粒，使得二氧化硅在二氧化硅于水性介质中基本上不聚合的条件下吸附在磨粒上，随后进行固液分离，从母液中分离出磨粒，测定残留在母液中的二氧化硅浓度，用以测定二氧化硅在磨粒上的吸附率(η)。
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