[发明专利]具有电流控制电阻效应的掺杂半导体/绝缘体/半导体材料无效

专利信息
申请号: 200310117195.X 申请日: 2003-12-05
公开(公告)号: CN1547220A 公开(公告)日: 2004-11-17
发明(设计)人: 章晓中;薛庆忠;张丽娜 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: H01C7/13 分类号: H01C7/13
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 代理人: 李光松
地址: 100084北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了属于电学量传感器材料的用PLD方法制备的一种具有电流控制电阻效应的半导体/绝缘体/半导体结构材料。该材料是在Si(100)基片上,用不同比例的金属-石墨复合冷压靶材,用PLD方法在一定温度下沉积得到的。该材料在无外加电场的情况下存在一个较大的本征偏压,大小约为0.0027伏特,利用该特性可设计新型传感器。金属掺杂的半导体/绝缘体/半导体的结构材料,是一种很有前途的电学传感器材料。
搜索关键词: 具有 电流 控制 电阻 效应 掺杂 半导体 绝缘体 半导体材料
【主权项】:
1.一种具有电流控制电阻效应的掺杂半导体/绝缘体/半导体材料,其特征在于:所述掺杂半导体是用金属原子比含量为1-70%的比例压成金属-石墨复合冷压靶材,用PLD方法在真空镀膜室中得到的金属掺杂的半导体/绝缘体/半导体的结构材料。
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