[发明专利]金属膜形成处理方法、半导体器件和布线基板无效

专利信息
申请号: 200310118597.1 申请日: 2003-12-12
公开(公告)号: CN1508285A 公开(公告)日: 2004-06-30
发明(设计)人: 吉谷昌明 申请(专利权)人: 新光电气工业株式会社
主分类号: C23C18/20 分类号: C23C18/20;H01L21/48;H05K3/38
代理公司: 北京市中咨律师事务所 代理人: 李峥;杨晓光
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及对树脂基材的表面依次进行调节处理、Pd活性化处理、无电解镀铜处理、电解镀铜处理,在该表面上形成铜金属膜的金属膜形成方法。在调节处理中,使调节处理液层状地存在于该表面与覆盖玻璃板之间,从覆盖玻璃板的上边向该表面照射紫外线。若在存在着处理液的状态下进行紫外线照射,则树脂表面分子和处理液成分就进行化学反应,促进并强化树脂表面的活性化,提高将附着于树脂表面上的金属铜的贴紧度。
搜索关键词: 金属膜 形成 处理 方法 半导体器件 布线
【主权项】:
1.一种按照电镀核产生工序和无电解电镀工序的顺序进行处理,在树脂基材的表面上形成处理金属膜的方法,在中间存在着上述无电解电镀工序前使用的处理液时向上述表面照射紫外线。
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