[发明专利]嵌入式系统的调试方法及其装置无效

专利信息
申请号: 200310119355.4 申请日: 2003-12-10
公开(公告)号: CN1627254A 公开(公告)日: 2005-06-15
发明(设计)人: 夏利民 申请(专利权)人: 华为技术有限公司
主分类号: G06F9/44 分类号: G06F9/44
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518129广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及含软件系统的调试方法及其装置,公开了一种嵌入式系统的调试方法及其装置,使得能够简单地实现动态查看和修改嵌入式系统中全局变量的功能,并且具有通用性、不受软件编译模式的限制。这种嵌入式系统的调试方法包含以下步骤:A维护终端模块接收对被调试对象的调试要求;B维护终端模块在映射文件中查询被调试对象的目标代码参数,并根据查询结果和调试要求生成操作命令,发送至嵌入式软件模块;C嵌入式软件模块接收并在嵌入式系统中执行操作命令,获取操作结果;D维护终端模块接收并显示来自嵌入式软件模块的操作结果。
搜索关键词: 嵌入式 系统 调试 方法 及其 装置
【主权项】:
1.一种嵌入式系统的调试方法,其特征在于,包含以下步骤:A维护终端模块接收对被调试对象的调试要求;B所述维护终端模块在映射文件中查询所述被调试对象的目标代码参数,并根据查询结果和所述调试要求生成操作命令,发送至嵌入式软件模块;C所述嵌入式软件模块接收并在所述嵌入式系统中执行所述操作命令,获取操作结果;D所述维护终端模块接收并显示来自所述嵌入式软件模块的所述操作结果。
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