[发明专利]一种注塑型聚甲基丙烯酸甲酯微流控芯片的质量检测方法无效
| 申请号： | 200310119500.9 | 申请日： | 2003-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN1632591A | 公开（公告）日： | 2005-06-29 |
| 发明（设计）人： | 王辉;戴忠鹏;王利;白吉玲;林炳承 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00 |
| 代理公司： | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 | 代理人： | 张晨 |
| 地址： | 116023*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种注塑型聚甲基丙烯酸甲酯微流控芯片的质量检测方法，其特征在于：包括对注塑型聚甲基丙烯酸甲酯微流控芯片通道的横截面轮廓测定、表面光洁度测定、表面电荷分布测定和化学性质确定。本发明提供了一种注塑型聚甲基丙烯酸甲酯微流控芯片的质量检测方法的优点在于：首次全面、客观、准确的对注塑型聚甲基丙烯酸甲酯微流控芯片的产品质量进行了监控，从而避免了以往在注塑型聚甲基丙烯酸甲酯微流控芯片的生产使用过程中，由于产品评价标准的缺乏所造成的混乱局面；对出自不同厂家的注塑型聚甲基丙烯酸甲酯微流控芯片进行产品质量检测的理想方法，并可成为行业标准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 注塑 甲基丙烯酸 甲酯微流控 芯片 质量 检测 方法 | ||
【主权项】：
1、一种注塑型聚甲基丙烯酸甲酯微流控芯片的质量检测方法，其特征在于：包括对注塑型聚甲基丙烯酸甲酯微流控芯片通道的横截面轮廓测定、表面光洁度测定、表面电荷分布测定和化学性质确定。
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