[发明专利]光刻装置,器件制造方法,及由此制成的器件有效

专利信息
申请号: 200310119736.2 申请日: 2003-12-03
公开(公告)号: CN1504831A 公开(公告)日: 2004-06-16
发明(设计)人: M·A·范德科霍夫;W·P·德博伊;M·M·赫梅里克 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;H01L21/027
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 肖春京
地址: 荷兰维*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 一种光刻投影装置包括:辐射系统,用来提供一次辐射的投影束;用于支撑作图装置的支撑结构,该作图装置用来按照所需图形对投影束作图;用于夹持衬底的衬底台;投影系统,用来将作图的束投射至衬底的目标部分上;辐射感测器,它可以在投影束经过的路径上移动,用来接收来自投影束的一次辐射,该感测器包括:一种辐射敏感材料,它将入射的一次辐射转变为二次辐射;能感测从该材料发出的二次辐射的感测装置;及一种滤波材料,它防止二次辐射在背离辐射感测装置的方向传播。
搜索关键词: 光刻 装置 器件 制造 方法 由此 制成
【主权项】:
1.一种光刻投影装置,包括-辐射系统,用来提供一次辐射的投影束;-支撑结构,用来支撑作图装置,该作图装置用来按所需图形对投影束作图;-衬底台,用来夹持衬底;-投影系统,用来将作图的束投射到衬底的目标部分上,-辐射感测器,它可在投影束经过的路径上移动,以接收来自投影束的一次辐射,该辐射感测器包括:一种辐射敏感材料,它将入射的一次辐射转变为二次辐射;能感测从辐射敏感材料发出的二次辐射的辐射感测装置;一种滤波材料,它能基本上阻止二次辐射在背离辐射感测装置方向传播。
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