[发明专利]用于电化学元件的漏泄检验的方法无效
| 申请号： | 200310120710.X | 申请日： | 2003-11-28 |
| 公开（公告）号： | CN1517689A | 公开（公告）日： | 2004-08-04 |
| 发明（设计）人： | P·豪格;P·比尔克;R·哈尔德;K·霍尔;D·伊利克 | 申请（专利权）人： | 瓦尔达微电池有限责任公司 |
| 主分类号： | G01M3/36 | 分类号： | G01M3/36 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 章社杲 |
| 地址： | 联邦德*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种用于电化学元件的漏泄检测的方法，该电化学元件具有由金属板或金属/塑料复合板构成的薄柔性外壳，在该方法中，在电化学元件装配之后，并且如有需要在于密闭容器中成形之后，使电化学元件承受增大的压力，然后承受下降的压力，并且测量发生在厚度上的任何变化。或者，在电化学元件于密闭容器中装配、成形和存储之后，使电化学元件承受下降的压力，并且测量发生在厚度上的任何变化。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 电化学 元件 漏泄 检验 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于电化学元件的漏泄检测的方法，所述电化学元件具有由金属板或金属/塑料复合板构成的薄柔性外壳，其中，在所述电化学元件装配之后，并且如有需要在于密闭容器中成形之后，使所述电化学元件承受增大的压力，然后承受下降的压力，并且测量发生在厚度上的任何变化。
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