[发明专利]超大规模集成电路的分层电源噪声监视器件和系统

摘要

本发明提出了一种用于超大规模集成电路的分层电源噪声监视器件。这种噪声监视器件制作在芯片上，用来测量芯片上的噪声。噪声监视系统包括多个分布在芯片上各个关键之处的片上噪声监视器件。用一噪声分析算法根据这些噪声监视器件采集的噪声数据分析噪声特性，而由一分层噪声监视系统将每个内核的噪声映射给片上系统。

主权项

1.一种用于一芯片上的超大规模集成电路的分层电源噪声监视系统，所述系统包括：多个制造在芯片上的噪声监视单元(NAU)，用于测量芯片上的噪声并且被分布在芯片上的宏和内核中的关键之处；每个片上噪声分析单元(NAU)测量芯片上的信号线或电源电压线或地电压的噪声特性，而每个NAU由一较高级的内部自测试(BIST)单元或一外部测试器控制。