[发明专利]与深亚微米射频工艺兼容的硅光电探测器无效

专利信息
申请号: 200310122068.9 申请日: 2003-12-31
公开(公告)号: CN1556546A 公开(公告)日: 2004-12-22
发明(设计)人: 毛陆虹;李炜;陈弘达;陈永权;张晓潇 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: H01L27/14 分类号: H01L27/14;H01L31/10;G01J1/02
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 张宏祥
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明公开了一种高速且与深亚微米射频_互补金属氧化物半导体(RF_CMOS)工艺兼容的硅光电探测器。其采用技术方案是,p型半导体衬底内设置有一个深n型阱,n型阱设置于所述衬底上,浅沟槽隔离区设置于n型阱中,四条叉指状的P+型扩散区设置在n型阱上;所述四条叉指状的P+型扩散区上设置有增透膜层由叉指状的P+型扩散区与n型阱构成光电二极管的pn结,由n型阱与P+型保护环构成屏蔽二极管。本发明可以应用在很多领域中,例如CD-ROM,数字化视频光盘(DVD),波长在630-850nm通过塑料光纤传送的数字系统。
搜索关键词: 微米 射频 工艺 兼容 光电 探测器
【主权项】:
1.一种与深亚微米射频工艺兼容的硅光电探测器,包括一个p-型半导体衬底,其特征在于,所述p-型半导体衬底内设置有一个深n型阱,n型阱设置于所述衬底上,浅沟槽隔离区设置于n型阱中,四条叉指状的P+型扩散区设置在n型阱上;所述四条叉指状的P+型扩散区上设置有增透膜层由叉指状的P+型扩散区与n型阱构成光电二级管的pn结,由n型阱与P+型保护环构成屏蔽二级管。
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