[发明专利]水溶性负型光阻及其形成光阻图案的方法有效
申请号: | 200310122533.9 | 申请日: | 2003-12-08 |
公开(公告)号: | CN1573540A | 公开(公告)日: | 2005-02-02 |
发明(设计)人: | 何邦庆;陈建宏;高野洋介;卢炳宏 | 申请(专利权)人: | 台湾积体电路制造股份有限公司;瑞士商科莱恩国际股份有限公司 |
主分类号: | G03F7/00 | 分类号: | G03F7/00;H01L21/027;G03F7/20 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 郑特强 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明提供一种水溶性负型光阻及其形成光阻图案的方法,该水溶性负型光阻至少包括聚合物、光活性化合物、抑制剂、交链剂、以及溶剂。由于此水溶性负型光阻不会与之前形成的光阻层互相混合,在曝光之后即可用去离子水来显影出预定的光阻图案。本发明提供的该形成光阻图案的方法,应用此水溶性负型光阻于构装与解除(Packing AndUnpacking;PAU)的光罩组合的方式,可增加聚焦深度(Depth OfFocus;DOF),降低光罩误差系数(Mask Error Factor;MEF),并缩小洞与洞的分离率(Hole-to-separation Ratio),进而达到提高聚焦深度及降低光罩误差系数的目的。 | ||
搜索关键词: | 水溶性 负型光阻 及其 形成 图案 方法 | ||
【主权项】:
1.一种水溶性负型光阻,其特征在于,至少包括:一聚合物,其中该聚合物为一水溶性聚合物;一光活性化合物(Photo-Active Compound),其中该光活性化合物为一水溶性光酸产生剂(Photo Acid Generator;PAG),且该光活性化合物占该水溶性负型光阻的一重量百分比介于0.01%至0.1%之间;一抑制剂(Quencher),其中该抑制剂为一水溶性胺类(Amine);一交链剂(Crosslinking Agent),其中该交链剂为一水溶性交链剂;以及一溶剂,其中该溶剂至少包括一去离子水(De-Ionized Water;DIW)。
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