[发明专利]测试装置无效

专利信息
申请号: 200310123029.0 申请日: 2003-12-23
公开(公告)号: CN1555013A 公开(公告)日: 2004-12-15
发明(设计)人: 黄晖杰 申请(专利权)人: 威盛电子股份有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 李强
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明所提供的一种测试装置,用以测试具通用序列埠界面的计算机周边装置,其主要包含有一微处理器;一记忆体,内预设有一韧体程序,且记忆体连接至微处理器;及一控制晶片,具通用序列埠界面控制,连接至微处理器,并设有复数个连接埠,用以连接待测的周边装置;其中记忆体内的韧体程序,是用以控制微处理器通过控制晶片对待测的周边装置进行测试。由于此测试装置仅利用一微处理器,通过一具通用序列埠界面的控制晶片来连接待测试的各周边装置,以对各周边装置进行测试,如此在测试各周边装置的过程中,利用此简单的电路架构来达到测试目的,即可有效降低成本及简化测试流程。
搜索关键词: 测试 装置
【主权项】:
1、一种测试装置,是测试具通用序列埠界面的周边装置,其特征在于包括有:一微处理器;一记忆体,内预设有一韧体程序,且该记忆体连接至该微处理器;及一控制晶片,具通用序列埠界面控制,连接至该微处理器,并设有复数个连接埠,用以连接待测的周边装置;其中所述记忆体内的韧体程序,是用以控制微处理器通过控制晶片对该待测的周边装置进行测试。
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