[发明专利]测试装置无效
申请号: | 200310123029.0 | 申请日: | 2003-12-23 |
公开(公告)号: | CN1555013A | 公开(公告)日: | 2004-12-15 |
发明(设计)人: | 黄晖杰 | 申请(专利权)人: | 威盛电子股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/26 | 分类号: | G06F11/26 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李强 |
地址: | 台湾省*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明所提供的一种测试装置,用以测试具通用序列埠界面的计算机周边装置,其主要包含有一微处理器;一记忆体,内预设有一韧体程序,且记忆体连接至微处理器;及一控制晶片,具通用序列埠界面控制,连接至微处理器,并设有复数个连接埠,用以连接待测的周边装置;其中记忆体内的韧体程序,是用以控制微处理器通过控制晶片对待测的周边装置进行测试。由于此测试装置仅利用一微处理器,通过一具通用序列埠界面的控制晶片来连接待测试的各周边装置,以对各周边装置进行测试,如此在测试各周边装置的过程中,利用此简单的电路架构来达到测试目的,即可有效降低成本及简化测试流程。 | ||
搜索关键词: | 测试 装置 | ||
【主权项】:
1、一种测试装置,是测试具通用序列埠界面的周边装置,其特征在于包括有:一微处理器;一记忆体,内预设有一韧体程序,且该记忆体连接至该微处理器;及一控制晶片,具通用序列埠界面控制,连接至该微处理器,并设有复数个连接埠,用以连接待测的周边装置;其中所述记忆体内的韧体程序,是用以控制微处理器通过控制晶片对该待测的周边装置进行测试。
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