[发明专利]利用多个探测器面板的容积测定CT系统和方法无效

专利信息
申请号: 200310124055.5 申请日: 2003-12-31
公开(公告)号: CN1513419A 公开(公告)日: 2004-07-21
发明(设计)人: W·罗斯;P·M·埃迪克;S·巴苏;N·伊沙克;D·沃尔特;J·麦克莱奥 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 王岳;张志醒
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于在非侵入式成像系统(10),如CT医疗成像系统(50)中提供可配置的视场的方法和装置。提供有包括两个或更多个平面板X射线探测器(68)的探测器结构(22),以便于可配置的视场可包围两个或更多个X射线探测器(68)的全部面积或所述全部面积的任何适宜的子集(74)。基于可接受的视场并且结合可接受的扫描速度,可对视场加以配置。
搜索关键词: 利用 探测器 面板 容积 测定 ct 系统 方法
【主权项】:
1.一种用于非侵入式获取表示目标内部特征的图像的方法,包括:从X射线源(12)发射X射线束(16),以便于至少X射线束(16)的一部分(20)穿过目标;在探测器(22)上探测至少所述X射线束(16)的所述一部分(20),所述探测器(20)包括两个或更多个平面板X射线探测器(68),其产生在任意视场内的响应于所述X射线束(16)的所述一部分(20)的两个或更多个信号,其中所述任意视场被限定在由所述两个或更多个平面板X射线探测器(68)所包围的面积之内;获取在所述任意视场内的所述两个或更多个信号;以及处理来自所述任意视场的所述两个或更多个信号,以重建表示目标内部特征(66)的图像(64)。
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