[发明专利]指纹核对方法及指纹核对装置有效

专利信息
申请号: 200310124249.5 申请日: 2003-12-29
公开(公告)号: CN1512391A 公开(公告)日: 2004-07-14
发明(设计)人: 宫坂光敏 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G06F17/00 分类号: G06F17/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 李香兰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种指纹核对方法及指纹核对装置。从被采集的指纹图像中抽出ND (ND为4以上的整数)个采集特征点,将从各采集特征点和与该采集特征点接近的LD (2≤LD≤ND-1,LD为整数)个接近采集特征点连接的多个采集连线所得到的采集数值群,作为采集数值信息,付与该各采集特征点,根据成为所述采集数值信息和分别被付与到NR(NR为4以上的整数)个登录特征点的登录数值群的登录数值信息的比较结果,将m(3≤m≤ND,m为整数)个采集特征点分别与m个登录特征点构成对应关联,比较核对所述m个采集特征点之间的位置关系和所述m个登录特征点之间的位置关系。
搜索关键词: 指纹 核对 方法 装置
【主权项】:
1.一种指纹核对方法,为采用指纹图像的指纹核对方法,其特征在于:从被采集的指纹图像中抽出ND(ND为4以上的整数)个采集特征点,将从连接各采集特征点和与该采集特征点接近的LD(2≤LD≤ND-1,LD为整数)个接近采集特征点的多个采集连线所得到的采集数值群,作为采集数值信息,付与该各采集特征点,根据所述采集数值信息与成为分别被付与到NR(NR为4以上的整数)个登录特征点的登录数值群的登录数值信息的比较结果,将m(3≤m≤ND,m为整数)个采集特征点分别与m个登录特征点构成对应关联,对所述m个采集特征点之间的位置关系与所述m个登录特征点之间的位置关系进行比较核对。
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