[发明专利]测距装置有效
| 申请号： | 200310124453.7 | 申请日： | 2003-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN1512136A | 公开（公告）日： | 2004-07-14 |
| 发明（设计）人： | 大友文夫;熊谷薰;古平纯一 | 申请（专利权）人： | 株式会社拓普康 |
| 主分类号： | G01C3/06 | 分类号： | G01C3/06 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;叶恺东 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 设有发射测距光的光源部；受光光学系统；将来自所述光源部的测距光投射到测定目标物并将来自该测定目标物的反射测距光导入所述受光光学系统的投射光学系统；以及将来自所述光源部的测距光作为内部参照光导入所述受光光学系统的内部参照光学系统。所述光源部能够射出束散角相异、波长相同或大致相同的两束测距光，所述受光光学系统包括将所述测距光的窄带波长的光成分透过的滤光器。 | ||
| 搜索关键词： | 测距 装置 | ||
【主权项】：
1.一种测距装置，其中设有：发出测距光的光源部，受光光学系统，将来自所述光源部的测距光投射到测定目标物并将来自该测定目标物的反射测距光导入所述受光光学系统的投射光学系统，以及将来自所述光源部的测距光作为内部参照光导入所述受光光学系统的内部参照光学系统；所述光源部能够射出束散角相异、波长相同或大致相同的两束测距光，所述受光光学系统设有使所述测距光的窄带波长的光成分透过的滤光器。
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