[发明专利]电路模拟方法无效
| 申请号： | 200310124469.8 | 申请日： | 2003-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN1530664A | 公开（公告）日： | 2004-09-22 |
| 发明（设计）人： | 木寺真琴 | 申请（专利权）人： | 株式会社瑞萨科技 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G06F17/50 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;王忠忠 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在多晶体管电路的电气特性模拟中，在根据多个尺寸排列多个晶体管形成的格子状图形中，存放所述多个晶体管中两个以上第一晶体管的电气特性测量数据。在格子状图形中指定与第一晶体管不同的第二晶体管位置，若有邻接于第二晶体管位置的一个以上第一晶体管位置时，用该一个以上位置的第一晶体管的测量数据按插补规则插补并求出第二晶体管的电气特性。再在格子状图形中指定与第二晶体管不同的另一第二晶体管，若在邻接于另一第二晶体管位置的一个以上位置上，有一个以上第一晶体管和/或已求出插补数据的第二晶体管位置时，用该一个以上位置的第一晶体管测量数据和/或第二晶体管插补数据按所述插补规则插补并求出另一第二晶体管的电气特性。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 模拟 方法 | ||
【主权项】：
1.一种对包含多个晶体管的电路的电气特性进行模拟的电路模拟方法，包括如下步骤：将多个晶体管根据多个尺寸排列成的格子状图形中，存放所述多个晶体管中的两个以上的第一个晶体管电气特性的测量数据；在格子状图形中指定与所述第一晶体管不同的第二晶体管的位置，如果有邻接于所述第二晶体管的位置的一个以上的第一晶体管的位置时，则使用该一个以上的位置的第一晶体管的测量数据，根据插补规则，插补并求出所述第二晶体管的电气特性；再在格子状图形中指定与所述第二晶体管不同的另一第二晶体管，如果在邻接于所述另一第二晶体管的位置上，有一个以上的第二晶体管和/或已经求出插补数据的第二晶体管的位置时，则使用该一个以上的位置的第一晶体管的测量数据和/或第二晶体管的插补数据，根据插补规则，插补并求出所述另一第二晶体管的电气特性。
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