[发明专利]形成自动对准接触窗方法无效

专利信息
申请号: 200310124495.0 申请日: 2003-12-25
公开(公告)号: CN1632923A 公开(公告)日: 2005-06-29
发明(设计)人: 黄水钦;陈建宏 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L21/30 分类号: H01L21/30
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 任永武
地址: 台湾省新竹科学*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种形成多晶硅缓冲的自动对准接触窗的方法。首先,在一半导体衬底上形成多个堆叠结构,各个堆叠结构彼此分离且包含一第一多晶硅层、一绝缘层及一第二多晶硅层,其中绝缘层形成于第一多晶硅层上方,第二多晶硅层形成于绝缘层上方。接着在每一堆叠结构的侧壁上形成间隙层,以及形成一介电层于该多个堆叠结构、该多个间隙层与该半导体衬底上。以部分第二多晶硅层为缓冲层,移除部分介电层以形成接触窗于两堆叠结构之间。
搜索关键词: 形成 自动 对准 接触 方法
【主权项】:
1.一种形成自动对准接触窗的方法,包含:提供一半导体衬底;形成多个堆叠结构于该半导体衬底上,每一该堆叠结构彼此分离且包含一第一多晶硅层、一绝缘层于该第一多晶硅层上以及一第二多晶硅层于该绝缘层上;形成一间隙层于每一该堆叠结构的侧壁上;形成一介电层于该多个堆叠结构、该多个间隙层与该半导体衬底上;及以部份该第二多晶硅层为一缓冲层,移除部分该介电层以形成一接触窗于部分该两堆叠结构之间。
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