[发明专利]光学记录介质写入自动优化方法及执行其的光学记录装置无效

专利信息
申请号: 200310124627.X 申请日: 2003-10-30
公开(公告)号: CN1525451A 公开(公告)日: 2004-09-01
发明(设计)人: 黄郁渊;安龙津;大塚达宏;朴仁植 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B7/0045 分类号: G11B7/0045
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 马莹;邵亚丽
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及一种对光学记录介质的记录条件进行优化的方法以及使用该方法的装置。该方法包括将一个测试写入模式记录在光学记录介质的多个轨道中;检查从多个轨道中的一个中再现出来的射频信号的质量,从而确定优化的记录条件,其中该轨道中记录有预定的写入模式,并受到相邻轨道中写入的影响。
搜索关键词: 光学 记录 介质 写入 自动 优化 方法 执行 装置
【主权项】:
1.一种优化光学记录介质的记录条件的方法,包括:将一个测试写入模式记录在光学记录介质的多个轨道中;和检查从多个轨道中的一个中再现出来的射频信号的质量,从而确定优化的记录条件,其中该轨道中记录有写入模式,且它受到在相邻轨道中写入的影响。
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