[发明专利]测试一光盘片的临界写入功率的方法及相关光驱无效
| 申请号： | 200310124729.1 | 申请日： | 2003-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN1635569A | 公开（公告）日： | 2005-07-06 |
| 发明（设计）人： | 林昌辉;宋友诚;邱珮瑜 | 申请（专利权）人： | 明基电通股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/0045 | 分类号： | G11B7/0045 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 蒲迈文;黄小临 |
| 地址： | 台湾省*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用来测试出一光盘片的临界写入功率的方法，该方法包含下列步骤：(a)使用一光学读写头以相异的测试功率将M笔测试数据写入至该光盘片的第一区中的M个区段；(b)使用该光学读写头读取写入于该M个区段内的测试数据，并计算写入至该M个区段内的测试数据的错误率；以及(c)比较该M个测试功率，并据以计算出该临界写入功率，该临界写入功率是介于一上限测试功率及一下限测试功率之间。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 盘片 临界 写入 功率 方法 相关 光驱 | ||
【主权项】：
1.一种用来测试出一光盘片的临界写入功率的方法，该方法包含：使用一光学读写头以相异的测试功率分别将M笔测试数据写入至该光盘片的一第一区中的M个区段，其中该第一区为该光盘片的外缘；使用该光学读写头读取该M个区段内的该M笔测试数据，并计算该M笔测试数据的错误率；以及比较该M笔测试数据的错误率，并据以计算出该临界写入功率，该临界写入功率介于一上限测试功率及一下限测试功率之间，该上限测试功率是一上限测试功率集合中所包含的测试功率中的最小者，该上限测试功率集合中的测试功率所对应的错误率皆大于一临界错误率，而该下限测试功率是一下限测试功率集合中所包含的测试功率中的最大者，该下限测试功率集合中的测试功率所对应的错误率皆小于该临界错误率。
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