[发明专利]非易失性存储器微机芯片及其测试方法

摘要

为了提供一种非易失性存储器微机，其中可以省略掉使用逻辑测试器对微机单元进行测试的步骤，因此降低了测试成本。存储器测试器向非易失性存储器微机提供测试数据和期望数据，并且非易失性存储器微机将它们存储到非易失性存储器中。接着，在收到地址信号时，非易失性存储器根据对应于地址信号的测试数据和期望数据输出测试信号和期望信号。测试信号被提供给微机单元中的电路块，用于驱动该电路块。电路块返回测试结果信号，该信号同期望信号一块被输出该存储器测试器。存储器测试器对测试结果信号和期望信号进行比较，以判断微机单元运行是否正常。

主权项

1.一种非易失性存储器微机芯片，包括微机单元和存储器单元，所述微机单元包括：多个电路块，其中包括一个CPU，并且 所述存储器单元包括：非易失性存储器；存储器控制单元，用于(a)从非易失性存储器微机芯片的外部获得多个测试数据段，并将所述多个测试数据段存储在非易失性存储器中，并接着(b)控制所述非易失性存储器顺序地输出多个测试信号，其中各个测试信号都表示所述多个测试数据段中的一个测试数据段；驱动单元，用于将从所述非易失性存储器中顺序输出的多个测试信号中的每一个提供给将要使用由所述测试信号表示的一个测试数据段进行测试的所述多个电路块中的任何一个，用以驱动所述电路块；以及输出单元，用于从所述被驱动的电路块中接收测试结果信号，并将所述测试结果信号输出到所述非易失性存储器微机芯片的外部。