[发明专利]半导体发光元件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200380100571.2 申请日: 2003-10-29
公开(公告)号: CN1692502A 公开(公告)日: 2005-11-02
发明(设计)人: 大塚康二;佐藤纯治;杢哲次;田中良孝;田岛未来雄 申请(专利权)人: 三垦电气株式会社
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 杨凯;叶恺东
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 可提高发光特性的半导体发光元件,在低电阻的硅衬底上设有缓冲层、n型半导体层、多重阱结构活性层(4)、p型半导体层。多重阱结构活性层(4)由以下部分构成:由多个InyGa1-yN构成的第一障壁层(7),由多个AlaGabIn1-a-bN构成的第一辅助层(9),以及由InxGa1-xN构成的阱层(8),由Ala′Gab′In1-a′-b′N构成的第二辅助层(10)。第一辅助层(9)和第二辅助层(10)防止In的蒸发或扩散。
搜索关键词: 半导体 发光 元件 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种具有量子阱结构活性层的半导体发光元件的制造方法,其特征在于包括:准备第一导电型半导体层(3)的工序,以及形成量子阱结构的活性层(4)的工序,该工序包括用有机金属化学气相生长法在所述第一导电型半导体层(3)上形成由InyGa1-yN构成的第一障壁层(7)的第一工序,其中y是满足0<y≤0.5的数值;用有机金属化学气相生长法在所述第一障壁层(7)上形成由AlaGabIn1-a-bN构成的第一辅助层(9)的第二工序,其中a、b是满足0<a、b<1、a+b≤1的数值;用有机金属化学气相生长法在所述第一辅助层(9)上形成由InxGa1-xN构成的阱层(8)的第三工序,其中x是满足0<x≤0.5且y<x的数值;用有机金属化学气相生长法在所述阱层(8)上形成由Ala′Gab′In1-a′-b′N构成的第二辅助层(10)的第四工序,其中a′、b′是满足0<a′、b′<1、a′+b′≤1的数值;以及用有机金属化学气相生长法在所述第二辅助层(10)上形成由InyGa1-yN构成的第二障壁层(7)的第五工序,其中y是满足0<y≤0.5的数值。
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