[发明专利]测量磁电阻元件中磁致伸缩的方法有效
| 申请号： | 200380100607.7 | 申请日： | 2003-10-17 |
| 公开（公告）号： | CN1692286A | 公开（公告）日： | 2005-11-02 |
| 发明（设计）人： | 休伯特·格里姆 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G01R33/18 | 分类号： | G01R33/18 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 付建军 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供了一种直接测量磁电阻元件的所述磁致伸缩常数的方法。所述方法包括以下步骤：1)提供基底，它承载着一个或多个磁电阻元件；2)把所述基底插入弯曲夹具中；3)施加平行于所述基底的DC磁场；4)施加交变磁场，它垂直于所述基底并且平行于所述元件的磁电阻层；5)测量所述元件发出的信号；6)通过弯曲所述基底施加平行于所述基底的机械应力；以及7)改变所述DC磁场，直至达到施加所述机械应力之前测量出的信号。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 磁电 元件 中磁致 伸缩 方法 | ||
【主权项】：
1.一种直接测量磁电阻元件的磁致伸缩常数的方法，其特征在于以下步骤：提供基底，它承载着一个或多个磁电阻元件；把所述基底插入弯曲夹具中；施加平行于所述基底的DC磁场；施加交变磁场，它垂直于所述基底并且平行于所述元件的磁电阻层；测量所述元件发出的信号；通过弯曲所述基底施加平行于所述基底的机械应力；以及改变所述DC磁场，直至达到施加所述机械应力之前测量出的信号。
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