[发明专利]半导体处理用载置台装置、成膜装置和成膜方法有效
申请号: | 200380100730.9 | 申请日: | 2003-12-26 |
公开(公告)号: | CN1692177A | 公开(公告)日: | 2005-11-02 |
发明(设计)人: | 若林哲;冈部真也;村上诚志;森嵨雅人;多田国弘 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/44 | 分类号: | C23C16/44;H01L21/285;H01L21/31;H01L21/68 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在半导体处理用的成膜处理容器(4)内配设载置台装置。载置台装置包括:载置台(16),其具有载置被处理基板(W)的上面和从上面下降的侧面;和加热器(18),配设在载置台(16)内,且通过其上面加热基板(W)。CVD预覆层(28)覆盖载置台(16)的上面和侧面,预覆层(28)具有使由加热器(18)的加热得到的来自载置台(16)的上面和侧面的辐射热量实质饱和的厚度以上的厚度。 | ||
搜索关键词: | 半导体 处理 用载置台 装置 方法 | ||
【主权项】:
1.一种载置台装置,配设在半导体处理用的成膜处理容器内,其特征在于,该载置台装置包括有:载置台,其具有载置被处理基板的上面和从所述上面下降的侧面;加热器,配设在所述载置台内且通过所述上面加热所述基板;和CVD预覆层,覆盖所述载置台的所述上面和所述侧面,设定所述预覆层,使其具有使由所述加热器的加热得到的来自所述上面和所述侧面的辐射热量实质饱和的厚度以上的厚度。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
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