[发明专利]相位分布测量装置及相位分布测量方法无效

专利信息
申请号: 200380100858.5 申请日: 2003-10-03
公开(公告)号: CN1703613A 公开(公告)日: 2005-11-30
发明(设计)人: 丰田晴义;向坂直久;宅见宗则 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00;G01B11/00;G01B11/28
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种相位分布测量装置,具有:通过在平面上矩阵状地配置多个聚光透镜(32)构成的复眼透镜(30);受光面只隔离聚光透镜(32)的焦矩而与复眼透镜(30)平行地配置的CMOS传感器(10);和相位计算装置(20)。中心位置计算部(243)通过与紧邻的像素亮度比较,算出受光面上焦点像的亮点(焦点)的中心位置。重心信息处理部(245)算出以亮点中心位置作为中心的重心演算区域的亮度的0次矩(重心演算区域的亮点亮度的总计值)、x方向1次矩及y方向1次矩。重心位置计算部(261)根据这些重心信息,算出各亮点的重心位置。
搜索关键词: 相位 分布 测量 装置 测量方法
【主权项】:
1、一种相位分布测量装置,其特征为,该装置包括:通过在平面上矩阵状地配置多个聚光透镜构成的复眼透镜;包含在受光面上矩阵状地配置的多个受光元件而构成的、所述受光面仅离开所述聚光透镜的焦距并与所述平面平行地配置的摄像元件;和根据从所述摄像元件输出的数据计算入射到所述复眼透镜的光的相位分布的相位计算装置,所述相位计算装置具有:根据所述各受光元件检测到的光的亮度数据,算出所述受光面的亮度成为极大值的亮点中心位置的中心位置计算单元;和算出以所述亮点中心位置为中心的重心演算区域的亮度的重心位置的重心位置计算单元。
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