[发明专利]用于检测点集中点的对应关系的方法、设备和计算机程序无效
| 申请号： | 200380102672.3 | 申请日： | 2003-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN1711549A | 公开（公告）日： | 2005-12-21 |
| 发明（设计）人： | G·埃克尔特;S·米勒;J·比克纳;M·帕尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/64;G06K9/62 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;王忠忠 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种用于在点集中检测点之间的对应关系的方法、设备和计算机程序，特别适用于指纹验证。把所扫描的指纹中指纹线条上记号的点与参考指纹中指纹线条上记号的点进行比较，并且由扫描的指纹和参考指纹中记号可能的对应点来形成匹配对。查找这种匹配对的最大数目。这样就能够为例如指纹验证规定一种高效的方法，该方法只需要少量的工作存储器和和低的计算功率。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 集中点 对应 关系 方法 设备 计算机 程序 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测第一点集和第二点集之间的点对应关系的方法，包括如下步骤：-查找包括来自于第一点集的点和来自于第二点集的点的可能匹配对，并且-查找匹配对的最大数目。
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